杂散发射（也称为杂散辐射或杂散输出）是指在电子设备工作时，除了期望的信号输出之外，还意外地发送到其他频率或波长的电磁辐射。这种发射可能会对周围的其他设备或系统造成干扰。为了确保电子设备的正常运行和避免干扰，准确测量杂散发射是非常重要的。
以下是测量杂散发射的一些常用方法：
- 使用频谱分析仪：
- 频谱分析仪能够测量特定频率范围内的信号强度。
- 通过将频谱分析仪的探头对准电子设备的外壳或天线，可以捕捉到杂散发射的信号。
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分析仪上显示的频谱图可以帮助识别杂散发射的频率和强度。
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使用罗德频谱仪（RSS）：
- 罗德频谱仪是一种专门用于测量射频（RF）和微波信号的仪器。
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它能够提供关于信号功率、频率和相位的信息，有助于准确评估杂散发射。
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使用网络分析仪：
- 网络分析仪主要用于评估无线通信系统的性能，包括发射机的杂散辐射。
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通过将网络分析仪的探头对准发射机，并调整频率范围以覆盖杂散发射的频段，可以测量杂散辐射的功率和频率。
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使用屏蔽室或衰减室：
- 屏蔽室或衰减室可以用来减少外部电磁干扰对测量结果的影响。
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在屏蔽室内进行测量可以减少外部噪声的干扰，从而提高杂散发射测量的准确性。
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使用定向天线和波导：
- 定向天线和波导可以用于将信号引导到特定的方向，从而减少杂散辐射的泄漏。
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通过使用定向天线和波导，可以更精确地测量杂散发射的方向性和强度。
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参考标准测试设备：
- 使用经过认证的标准测试设备，如矢量网络分析仪或信号发生器，可以确保测量结果的准确性和可靠性。
在进行杂散发射测量时，需要注意以下几点：
- 确保测量环境稳定，避免外部干扰源的影响。
- 使用合适的探头和频率范围，以覆盖杂散发射的频段。
- 根据需要调整测量参数，如功率水平和频率范围。
- 记录和分析测量结果，以便评估杂散发射是否符合相关标准和规定。
请注意，具体的测量方法可能因电子设备类型、应用场景和测量要求而有所不同。在进行杂散发射测量之前，建议参考相关的行业标准、技术规范或咨询专业人士的意见。
